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Subposição II 9030.82 do NCM
Para medida ou controle de wafers ou de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

Detalhamento da Subposição II

XVIII - INSTRUMENTOS E APARELHOS DE ÓPTICA, DE FOTOGRAFIA, DE CINEMATOGRAFIA, DE MEDIDA, DE CONTROLE OU DE PRECISÃO;

90. Instrumentos e aparelhos de óptica de fotografia de cinematografia de medida de controle ou de precisão; instrumentos e aparelhos médico-cirúrgicos; suas partes e acessórios.

90.30 - Osciloscópios, analisadores de espectro e outros instrumentos e aparelhos para medida ou controle de grandezas elétricas; instrumentos e aparelhos para medida ou detecção de radiações alfa, beta, gama, X, cósmicas ou outras radiações ionizantes.

9030.82 - Para medida ou controle de wafers ou de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

9030.82.10 – De testes de circuitos integrados
9030.82.90 – Outros

Regras gerais para interpretação do sistema harmonizado

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Detalhamento da Subposição II

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